电子产品可靠性试验报告1

电子设备产品的可靠性试验

摘 要: 可靠性试验是可靠性工程最基本的内容和最重要的工作项目。本文对电子设备产品可靠性试验的技术基础、可靠性试验的特点和分类、电子设备产品可靠性试验的方案设计，以及可靠性试验数据的分析和处理方法作了一些介绍。

关键词: 电子设备产品;可靠性;指标;试验;数据处理

引言:随着电子技术的发展，对电子设备产品也提出了更高的要求。由于设备技术性能和结构要求等方面的提高，可靠性问题愈显突出。如果没有可靠性保证，高性能指标是没有任何意义的，现代用户买产品就是买可靠性，对生产厂家来说，可靠性就是信誉，就是市场，就是经济效益。从整机来讲，可靠性贯穿于设计、生产、管理中。从部件、元器件的角度来讲，电子元器件的可靠性水平决定了整机的可靠性程度。电子设备产品的可靠性指标是一些综合性、统计性的指标，与质量性能指标完全不同，不可能用仪表、仪器或其它手段得到结果，而是要通过试验，从试验的过程中取得必要的数据，然后通过数据分析，处理才能得到可靠性指标的统计量。 电子设备产品的可靠性及其试验

一.电子设备产品的可靠性

1. 可靠性的基本概念

可靠性属于质量的范畴，是产品质量的时间函数。从基本概念上讲，可靠性指标与质量的性能指标所强调的内容是不同的，可靠性的基本概念与时间有关(如表1 所示)，这些基本概念的具体化，就是产品故障或寿命特征的数学模型化。只有通过可靠性试验才能确定产品故障或寿命特征符合哪一种数学分布，才可以决定产品的可靠性指标，进而推算产品的可靠程度。在可靠性工程中，最常见的寿命分布函数有指数分布、威布尔分布、对数正态分布和正态分布。

2.电子设备产品的可靠性指标

大量统计资料证明:电子设备产品的失效分布一般服从指数分布。从电子设备产品及许多电子元器件的失效机理来看，随着时间的足够长，失效率趋近于一个稳定值，其基本特征可以用指数函数的曲线相比拟， 即服从指数分布，因此电子设备产品的可靠性指标有:

R(t)=e-μ (1)

累积失效概率F(t):

F(t)=I-R(t)=1-e-μ

失效密度函数f(t):

f(t)=F'(t)= λ e-μ

平均故障间隔时间MTBF:

可靠度R(t): MTBF=1/λ

由上可看出在指数分布时产品的可靠性指标表示式比较简单，并且失效率λ是一个常数。在进行电子设备产品可靠性分析时，只要得到λ的数值，其它指标就可以直接算出来。

二.电子设备产品的可靠性试验

1.可靠性试验的特点和分类

可靠性指标的实现主要依靠现场试验或模拟现场条件试验，所以可靠性试验不同于一般设备的性能试验。从广义上讲为了了解、评价、分析和提高电子设备产品的可靠性水平而进行的试验，可以用来确定电子设备产品在各种环境条件下工作或贮存的可靠性的特征量。一般说电子设备产品的可靠性试验可以分为研制阶段的试验，可靠性验收试验，可靠性增长试验，元器件老炼试验，极限试验，负荷及过负荷试验，过载能力试验等，这类试验的目的是了解设计是否满足了可靠性指标的要求，找出或排除设计与制造过程中的缺限和不足，证明设计可靠性能否实现，因而可靠性试验可以根据设备研制过程中的不同阶段，不同要求进行各种不同的试验。对于不同的电子设备产品，所要达到的目的不同，可以进行的可靠性试验形式也就各异，因此可靠性试验对于电子设备产品来说是一个系统工程，电子设备产品的可靠性试验可以归纳为以下几大类型(如图1所示)。另外，温度、振动、冲击及高温寿命、加速寿命等试验在实际应用中较为广泛。

图1 可靠性试验的类型

2.电子设备产品可靠性试验方案的设计

电子设备产品可靠性试验计划的基本内容应含有:(1)试验的目的和要求;(2)试验样机数量;(3)试验条件(环境、维修等);(4)试验类型的确定和统计试

验方案的选择;(5)判断方法、失效判据，故障判据等等。这里需要指出的是样机数量，对于可靠性增长试验，试验样机多一些是必要的，对鉴定和接收试验来说，样机多一些可以提高试验结果的置信度。一般鉴定试验不足三台则全数试验。接收试验不得少于3台，推荐样机数量为每批设备的10%(见表2)。总之可靠性试验方案要根据电子设备产品的实际使用条件和故障特征选择合适的试验方案。

2.1 试验类型的选择

(1)老产品已生产多年，未进行可靠性设计，现产品的生命力较强，需要继续生产，可选择可靠性测定试验，测出设备的MTBF 验证值，同时根据暴露的问题采取措施，提高产品的可靠性。

(2)新产品处于设计试制阶段，可通过可靠性试验暴露产品中的薄弱环节，以便采取改进措施，提高产品的固有可靠性，可选择可靠性增长试验。

(3)新产品设计定型、生产定型和产品创优，可选择可靠性鉴定试验，一般情况下选用定时截尾或定数截尾试验方案，以对产品的MTBF 真值作出估计。

(4)根据供需双方鉴定的合同规定，需要对产品的MTBF真值作验证的，可选择可靠性验收试验，采用定时截尾或定数截尾试验方案。若供需双方鉴定的合同规定，只要通过了系统试验方案就可交货，不需对产品的MTBF真值作出估计，可选用概率比序试验方案，这种情况特别适用单台大型电子设备产品。

2.2 环境条件及应力的确定

根据使用方向生产方提供的电子设备产品任务书或供需双方签订的合同，搞清电子设备产品在工作时所处的环境条件及给予它的应力。如果无特殊要求，应按电子设备产品总技术条件要求，在实验室模拟进行，一般情况下可采用图2 所加的应力及循环方式。

图2 电子设备可靠性试验方案所加的应力及循环方式 2.3 统计试验方案的参数确定

(1)θ0(可接收的MTBF 值)的确定。θ0 应小于等于θ’(θ’是按照电子设备产品所处的环境条件和应力，用可靠性预计方法确定的MTBF值)。θ0 确定之后，根据选择的鉴别比Dm(Dm=θ0/ θ1)，就可以计算出θ1(θ1 指最低可接受的MTBF 值)。

(2)生产方风险 率α、使用方风险率β的选择。一般情况下，供需双方签订的合同( 包括协议书)已定的可按合同执行。如果合同无规定，或是生产厂家自行验证，一般情况下可选择0.2,0.3，高风险可选择0.3,0.4。

(3)试验时间t 的选择。除与α、β有关外，主要取决于电子设备产品属于何种类型，该设备能否长时间进行可靠性试验，试验费用的大小，可在表2 中最佳样机数与最大样机数之间进行选择(t=T/n，T 为截尾时间)。

2.4 测试周期的确定

测试周期必须合理选择，周期太密，会增加工作量，周期太疏又会失掉有用的信息。可按下列公式计算，然后确定:

R(t)=e- μ =e-t/θ

F(t)=1-e-t/θ

e-t/ θ =1-F(t)

-t θ =Ln[1-F(t)]

t= θLnn = θ Ln = θLn 1- - = θLn

其中:t ——规定的试验时间;

r ——相关失效数;

n ——抽样数;

θ—— MTBF。

测试时间太长，可确定1天测1次，及时发现产品失效并做好记录。 2.5 失效判据(失效标准)的制定

所谓失效，即产品丧失规定的功能。因此，凡是在试验过程中不满足电子设备

产品技术性能的任一项指标，应作为失效判据，此判据必须由可靠性工程师负责，召集设计、工艺、检验等方面技术人员讨论，统一思想，最后制定。 三.可靠性试验的数据分析与处理

1.可靠性试验的数据分析方法

可靠性试验的数据分析的基础就是产品寿命分布函数及参量之间的关系。例如故障与应力(电、热、振动、温度等)对应关系;故障与产品早期性能变化的规律等，这些包含有两个变量的数据，在分析时就可用相关及回归分析方法，或用最小二乘法，从试验中取得的数据，可以制成各种图，如直方图，拆线图等，拟合成直线、曲线用以确定产品故障(寿命)的数学模型，由模型就可写出其可靠性指标，最后推算出该产品的可靠性参数值。电子设备产品的故障模式(寿命 分布)可以用指数分布的数学模型来描述，所以 (小时)，我们通过试验，只要取得MTBF的估计值(观测值)，就可算出失效率λ及可靠度R(t)来。然后与设计过程中的预计值相比较，达到指标要求，试验停止，达不到则继续试验。 2.电子设备产品可靠性试验数据的处理

可靠性试验的数据是一些实际的、多因素的信息集体，对于电子设备产品来说，试验的目的不同，所需采集的数据种类就不同，因此要用试验的观测值来估计设备的可靠性特征值，这是电子设备产品可靠性试验数据处理的关键。我们知道MTBF 是衡量电子产品可靠性的一个重要指标，并且检验下限应等于电子设备产品最低可接受的MTBF。实际工作中常采用观测值的点估计即:

式中， 为MTBF(电子设备产品)观测点估计值;T 为电子设备产品试验时间总和;r 为电子设备产品在试验中的故障次数。

还有一种故障强度点估计，当r＞0(有故障发生时):

当r=0(试验过程中未发生故障):

式中， 为电子设备产品失效率点估计值; 为电子 设备产品MTBF的点估计值;T 为电子设备产品试验时间总和;r 为故障次数。

利用点估计的方法可以大致估算出电子设备产品MTBF。这是些经验公式，可以为验证设计可靠性进行可靠性试验，以实现快捷处理试验数据。

未来展望与专业应用

作为一名通信专业的本科大学生，了解掌握电子可靠性技术，尤其是通信电子

产品的可靠性试验是十分必要的，这项技术将在这我今后的专业领域内广泛应用。

随着互联网的普及，网络正成为人们工作和生活越来越重要的组成部分。人们用它听歌看电影玩游戏，企业用它建立运营体系、存储数据、下发生产指令。试想某天当我们无法上网时，会是怎样的境况,你将无法在MSN上和好友畅聊，无法在Google地图上查找交通路线，无法在家了解股票行情……习惯依赖互联网的我们将不得不改变生活方式。对于企业来说，停机除造成直接的经济损失外，还可能引发社会影响和信任危机。美国Infonetics Research对80家大型企业调查发现，由网络故障造成的损失平均占年销售额的3.6%。

就像电话一样，人们希望网络也能“想用就用”，可靠性的专业术语就是“可用度高”。实现高可用网络的方法，除了像冗余备份、提高故障诊断能力、增加备件这些减少设备宕机时恢复时间的方法之外，还包括一个重要的指标就是设备的可靠性。 1.可靠性管理:可靠性保证和增长的基础

之所以把可靠性管理放在第一位，优先于可靠性设计、分析和试验，是因为我们认为后者都是具体的、细节的技术或方法，是可以短期内修正或完善的，而可靠性管理则代表了一个公司可靠性领域在流程和制度上的成熟度，需要时间、实践、经验和数据的积累和沉淀，可以说是员工心智和公司文化的体现。

良好的可靠性管理通过建立一套严格的纪律，指导我们什么时候要做什么事情;可以让今天的教训成为明天的预防，在明天就“一次性把事情做对”;可以让我们“站在巨人的肩膀上”，做任何事情都不是从零开始。而所有的目的，只是为了实现可靠性目标的承诺，保证提供给客户的产品，在承诺的时间内是高可靠的、是满足客户要求的。

2.可靠性设计:关注细节，重在执行

谈到电子产品可靠性设计，我们几乎马上会想到热设计、元器件降额、容差容错设计、可靠性预计等等。就像小学作文，中心思想是确定的，关键看如何写这篇文章。可靠性设计是否成功，有两点必不可少，其一是执行，其二是细节。 3.可靠性分析:防患未然，心知肚明

可靠性分析主要包括三部分:可靠性预计、FMEA(故障模式影响分析)和FTA(故障树分析)。可靠性预计通过MTBF、返修率等指标作为维修、备件成本的预计，或整网可用度的评估，对设备可靠性增长贡献不多。FTA构造繁杂、对人员经验和技能要求高、容易出错。对于复杂产品，FMEA是一个防患未然的有效方法。 4.可靠性试验:真金不怕火炼

我们研发出来的每一款产品，都会经受可靠性试验的洗礼，其中最严酷的当属HALT试验(Highly Accelerated Life Test，高加速寿命试验)。 5.可靠性筛选:最后质检员

研发出来的产品，到量产后，由于器件批次间的参数离散、工艺控制的原因，可靠性有可能会降低。在H3C，我们还采用了一个时尚前卫的可靠性保证手段，那就是HASA筛选。

HASA利用温度、振动、电应力、数据流量等多应力同时施加的方式，有效筛选出故障设备，从而实现量产产品在质量和可靠性上的快速稳定。我们通常的HASA筛选应力远超出设备工作应力，比如温变率，典型应用环境温变率不会超过0.5?/分钟，H3C筛选应力是40?/分钟。

参考文献:

[1] 赵怀科. 电子专用设备的可靠性试验〔J〕. 电子工业专用设备. 1996， [2] 肖诗唐，钱祖权，华泉宝. 电子工艺设备可靠性讲义〔M〕. 北京:电子工业部元器件管理局，1986.

[3] 何国端. 可靠性试验〔M〕. 北京:电子工业出版社，1987.

第二篇：电子产品可靠性测试报告

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试验情况综述

试验情况综述（续）

试验情况综述（续）

试验情况综述（续）

试验情况综述（续）

检测地点及环境条件：

    地点：  B141\B147 

温度：15℃～35℃   湿度45％RH～75％RH

气压：86kPa～106kPa

检测使用的主要设备和仪器

附录：

1.外箱抗压测试后照片：外箱形变量＞3%

2. 标签酒精测试后照片：有明显擦拭掉

3. 裸机跌落试验后照片：前面板有破损

4. 防水测试后照片：有进水痕迹

                         以下空白