1. 数据读取异常（0x00）
2. RC522：寻卡第一次可以，第二次读不到，第三次可以，第四次读不到。。。。。
原因：不明
解决方法如下：
a) 读不到时多次读取，貌似也就寻卡时会有这个问题，当寻到卡片后后续操作无此
类问题
b) 读完一次可重新初始化一下，第二次就可以读到了
3. 验证卡密的过程中ErrorReg中protoco1Err标记位总是置1
原因：发送的卡号少了一个字节
解决方法：正确发送数据格式
4. 寻卡过程中出现死机状况
原因：
a) 寻卡->防冲撞->选卡。。。。。。的过程中突然移动卡片导致无法继续往下执行
b) 卡片本身出现了异常
解决方法：
a) 在寻卡过程中突然无发往下执行时，需重新进行选卡
b) 多次寻卡失败后需重新进行初始化操作
5. 数据存储：
S50卡共16个扇区，每个扇区共4块，其中3块可用于存储数据，每一块可以存4
个字节，故可以存放16*3*4=192个字节，实际＞192字节，每个扇区的第4块也可以使用
6. 密码验证：
程序在调试过程中发现除了扇区0，别的扇区访问都出错
原因：理解一直有问题，之前认为验证密码为验证扇区的ID，即想要读数据块5时
，验证密码ID因写入扇区ID 1，其实是错误的，验证密码的ID应该是块ID,当验
证完一个块后，在不换扇区的前提下，可直接读取其余3个块地址数据，这也是
为什么我能访问扇区0内所有块的数据的原因
解决方法：正确发送块地址
7. 节电模式
节电模式有两种：①、硬件掉电，也就是RST引脚拉低，当RST拉高后芯片进入初始
化状态实际测试过程中，RST置高进入工作状态时电流为
11mA,RST置低时进入掉电模式时功耗为300Ua,所以需在DCDC和
前加一个三极管通断。
②、软件掉电，CommandReg中的Powerdown置1，进入掉电模式，
软件掉电可以保存当前寄存器状态
第二篇：实验三RC一阶电路的响应测试
实验三 RC一阶电路的响应测试
一、实验目的
1. 测定RC一阶电路的零输入响应、零状态响应及完全响应。
2. 学习电路时间常数的测量方法。掌握有关微分电路和积分电路的概念。
3. 进一步学会用示波器观测波形。
二、实验仪器
1、函数信号发生器
2、双踪示波器
3、动态电路实验板
三、实验原理
1. 东态网络的过渡过程是十分短暂的单次变化过程。要用普通示波器观察过渡过程和测量有关的参数，就必须使这种单次变化的过程重复出现。为此，我们利用信号发生器输出的方波来模拟阶跃激励信号，即利用方波输出的上升沿作为零状态响应的正阶跃激励信号；利用方波的下降沿作为零输入响应的负阶跃激励信号。只要选择方波的重复周期远大于电路的时间常数τ，那么电路在这样的方波序列脉冲信号的激励下，它的响应就和直流电接通与断开的过渡过程是基本相同的。
2.图7-1（b）所示的 RC 一阶电路的零输入响应和零状态响应分别按指数规律衰减和增长，其变化的快慢决定于电路的时间常数τ。
3. 时间常数τ的测定方法:
用示波器测量零输入响应的波形如图7-1(a)所示。
根据一阶微分方程的求解得知uc＝Ume-t/RC＝Ume-t/τ。当t＝τ时，Uc(τ)＝0.368Um。此时所对应的时间就等于τ。亦可用零状态响应波形增加到0.632Um所对应的时间测得，如图7-1(c)所示。
a) 零输入响应 (b) RC一阶电路 (c) 零状态响应
图 7-1
4. 微分电路和积分电路是RC一阶电路中较典型的电路， 它对电路元件参数和输入信号的周期有着特定的要求。一个简单的 RC串联电路， 在方波序列脉冲的重复激励下， 当满足τ＝RC<<
时（T为方波脉冲的重复周期），且由R两端的电压作为响应输出，则该电路就是一个微分电路。因为此时电路的输出信号电压与输入信号电压的微分成正比。如图7-2(a)所示。利用微分电路可以将方波转变成尖脉冲。
(a)微分电路 (b) 积分电路
图7-2
若将图7-2(a)中的R与C位置调换一下，如图7-2(b)所示，由 C两端的电压作为响应输出，且当电路的参数满足τ＝RC>>，则该RC电路称为积分电路。因为此时电路的输出信号电压与输入信号电压的积分成正比。利用积分电路可以将方波转变成三角波。
从输入输出波形来看，上述两个电路均起着波形变换的作用，请在实验过程仔细观察与记录。
四、实验内容
实验线路板的器件组件，如图7-3所示，请认清R、C元件的布局及其标称值，各开关的通断位置等。
1. 从电路板上选R＝10KΩ，C＝6800pF组成如图7-1(b)所示的RC充放电电路。ui为脉冲信号发生器输出的Um＝3V、f＝1KHz的方波电压信号，并通过两根同轴电缆线，将激励源ui和响应uC的信号分别连至示波器的两个输入口YA和YB。这时可在示波器的屏幕上观察到激励与响应的变化规律，请测算出时间常数τ，并用方格纸按1:1 的比例描绘波形。
少量地改变电容值或电阻值，定性地观察对响应的影响，记录观察到的现象。
2. 令R＝10KΩ，C＝0.1μF，观察并描绘响应的波形，继续增大C 之值，定性地观察对响应的影响。
3. 令C＝0.01μF，R＝100Ω，组成
如图13-2(a)所示的微分电路。在同样的方
波激励信号（Um＝3V，f＝1KHz）作用下，
观测并描绘激励与响应的波形。
增减R之值，定性地观察对响应的影响，
并作记录。当R增至1MΩ时，输入输出波
形有何本质上的区别？
图7-3 动态电路、选频电路实验板
五、数据处理
(1) R＝10KΩ，C＝6800pF
理论上的τ=R*C=6.8*10^-5 s
响应图形：
从图上可以得到：Um=3.88v ，Uc(τ)＝0.368Um=1.43v，Um和Uc(τ)所对应的t的差=0.36*200*10^-6=7.2*10^-5s
误差大小：（7.2-6.8）*10^(-5)/（6.8*10^(-5)）*100%=5.9%
（2）(2) R＝10KΩ，C＝0.1μF
响应图形：
理论上随着C的增大，其τ=R*C也是会增大，而此图的Um很大，不能读出相应的τ，但是他肯定是增大的；
(3) C＝0.01μF，R＝100Ω
响应图形：
这是一个微分电路.
（4）R=1MΩ，C＝0.01μF
响应图片：
因为这时τ比较大，然后充放电的过程很不明显，但还是有这个过程的。
六．试验结果分析
通过这次实验，对RC一阶电路的零输入响应、零状态响应有了一个比较好的认识:
少量地改变电容值或电阻值的时候发现，当电容值或电阻值增大时，放电过程和充电过程的时间变长.减小是则变短.
实验中存在误差：误差的来源可能是仪器误差、可能是读数误差。误差是不能避免的。