实验三 典型环节频率特性的测试
一、实验目的
1. 掌握典型环节频率特性曲线的测试方法。
2. 根据实验求得的频率特性曲线求取传递函数。
二、实验设备:TKKL-1实验箱一台,超低频示波器一台。
三、实验内容
1. 惯性环节的频率特性测试。 2. 由实验测得的频率特性曲线求传递函数。
四、实验原理
1. 系统的频率特性
一个稳定的线性系统,在正弦信号作用下,它的稳态输出是与输入信号同频率的正弦信号,振幅与相位一般与输入信号不同。测取不同频率下系统的输出、输入信号的幅值比和相位差,即可求得这个系统的幅频特性和相频特性。设输入信号,则输出信号为。
幅频特性 , 相频特性
2. 频率特性测试——李沙育图形法
将、分别输入示波器的X、Y轴,可得如下李沙育图形如图5-1。
①幅频特性测试:
由 ,有 (dB)
改变输入信号的频率,即可测出相应的幅值比,测试原理示意图如图5-2。
. 图5-1 李沙育图形 图5-2 幅频特性测试图
②相频特性测试:
, 当时,
有
其中,为椭圆与Y轴相交点间的长度,
上式适用于椭圆的长轴在一、三象限;当椭圆的
长轴在二、四象限时相位的计算公式变为
图5-3相频特性测试图(李沙育法)
相频特性记录表
3. 惯性环节:电路如图5-4,传递函数为
假设取C=0.1uF,R1=100K,R2=200K,
则系统的转折频率为=7.96Hz。 图5-4惯性环节测试电路
()
五、实验步骤
1.在实验箱上搭建惯性环节电路如图5-4,并接入比例环节。输入信号源,电路和信号源输出接示波器。在不致输出饱和的情况下,输入信号尽量大一些,测试输入信号的幅度(用2Xm表示)。测试时将示波器扫描和幅值衰减档置校准位置,读出格数再转化为电压,此后,应不再改变输入信号的幅度。为读数方便,在读2Xm 、2Ym时,可将示波器X轴增益调到0,使光点在荧光屏上只作垂直运动。
2.调节函数信号发生器使频率由低到高(1~15Hz)变化,测量对应的、2Xm、2Ym,数据填入表格,在转折频率附近可以多测量几点。
3.由绘制对数相频特性曲线。
4.根据绘制对数幅频特性曲线。
5.将绘制后的波特图与准确的波特图进行对比,分析误差原因。
六、实验报告要求
1. 写出被测环节的传递函数,画出相应的模拟电路图。
2. 把实验数据和计算数据填入表格,记录李沙育图形形状和光点运动方向。
3.绘制被测环节的幅频、相频Bode图,分析实测Bode图产生的误差。
七、思考题:
1. 在实验中如何确定转折角频率?
2. 用示波器测试相频特性时,若把信号发生器的正弦信号送入Y轴,系统输出信号送至X轴,李沙育图形会怎样变化?
第二篇:典型环节(或系统)的频率特性测量
典型环节(或系统)的频率特性测量
一·实验目的
1.学习和掌握测量典型环节(或系统)频率特性曲线的方法和技能。
2.学习根据实验所得频率特性曲线求取传递函数的方法。
二·实验要求
1.用实验方法完成一阶惯性环节的频率特性曲线测试。
2.用实验方法完成典型二阶系统开环频率特性曲线的测试。
3.根据测得的频率特性曲线求取各自的传递函数。
4.用软件仿真方法求取一阶惯性环节频率特性和典型二阶系统开环频率特性,并与实验所得结果比较。
三·实验原理
掌握改变正弦波信号幅值和频率的方法。利用实验箱上的模拟电路单元,参考本实验附录设计并连接“一阶惯性环节”模拟电路(如用U9+U8连成)或“两个一阶惯性环节串联”的模拟电路(如用U9+U11连成)。
四·实验所用仪器
PC微机(含实验系统上位机软件)、ACT-I实验箱、USB2.0通讯线
五·实验步骤和方法
1.用实验方法完成一阶惯性环节的频率特性曲线测试。
2.用实验方法完成典型二阶系统开环频率特性曲线的测试。
3.根据测得的频率特性曲线求取各自的传递函数。
4.用软件仿真方法求取一阶惯性环节频率特性和典型二阶系统开环频率特性,并与实验所得结果比较。
具体步骤:
1.熟悉实验箱上的信号源,掌握改变正弦波信号幅值和频率的方法。利用实验箱上的模拟电路单元,参考本实验附录设计并连接“一阶惯性环节”模拟电路(如用U9+U8连成)或“两个一阶惯性环节串联”的模拟电路(如用U9+U11连成)。
2.利用实验设备完成一阶惯性环节的频率特性曲线测试。
无上位机时,利用实验箱上的信号源单元U2所输出的正弦波信号作为环节输入,即连接箱上U2的“正弦波”与环节的输入端(例如对一阶惯性环节即图1.5.2的Ui)。然后用示波器观测该环节的输入与输出(例如对一阶惯性环节即测试图1.5.2的Ui和Uo)。注意调节U2的正弦波信号的“频率”电位器RP5与“幅值”电位器RP6,测取不同频率时环节输出的增益和相移(测相移可用“李沙育”图形),从而画出环节的频率特性。
有上位机时,必须在熟悉上位机界面操作的基础上,充分利用上位机提供的虚拟示波器与信号发生器功能。为了利用上位机提供的虚拟示波器与信号发生器功能,接线方式将不同于上述无上位机情况。仍以一阶惯性环节为例,此时将Ui连到实验箱 U3单元的O1或O2(D/A通道的输出端,这个是通过上位机选择其中的一路输出),将Uo连到实验箱 U3单元的I1(A/D通道的输入端),然后再将你选择的D/A输出通道测试信号O1(如果选择的是O1)连接到这组A/D输入的另一采集输入端I2,然后连接设备与上位机的USB通信线。接线完成,经检查无误,再给实验箱上电后,启动上位机程序,进入主界面。界面上的操作步骤如下:
①选择任一D/A输出通道,如“O1”,将其作为环节输入,接到环节输入Ui端,再将其作为原始测试信号接到A/D输入的I2(便于观看虚拟示波器发出的原始信号),将环节的输出端Uo接到A/D输入通道I1。
②完成上面的硬件接线后,检查USB连线和实验箱电源,然后打开LabVIEW软件上位机界面程序。
③进入实验界面后,先对频率特性的测试信号进行设置:“幅值”为5(可以根据实验结果波形来调整),“测试信号”为正弦波。
④完成实验设置,先点击LabVIEW运行按钮“RUN”运行界面程序,按照上面的步骤③设置好信号后,点击“下载数据”按钮,将设置的测试信号发送到数据采集系统。然后点击实验界面右下角的“Start”按钮来启动频率特性测试。测试程序将会从低频率计算到高频,界面右下角有个测试进度条,它将显示测试的进度。最后测试出来频率特性的Bode Plot、Nyquist Plot将在相应的图形控件中显示出来,在同一界面中我们可以同时看到频率特性的两种显示模式:一种是伯德图“Bode Plot”,它包括幅频特性和相频特性;另一种模式就是乃奎斯特图“Nyquist Plot”,又称极坐标图。
⑤按实验报告需要,将图形结果保存为位图文件,操作方法参阅软件使用说明书
3.利用实验设备完成典型二阶系统开环频率特性曲线的测试。具体操作方法参阅步骤2。
4.参考附录的提示,根据测得的频率特性曲线(或数据)求取各自的传递函数。
6.分析实验结果,完成实验报告。
附录:
1.实验用一阶惯性环节传递函数参数、电路设计及其幅相频率特性曲线:
对于的一阶惯性环节,其幅相频率特性曲线是一个半圆,见图3.1。
取代入,得
在实验所得特性曲线上,从半园的直径,可得到环节的放大倍数K,K=。在特性曲线上取一点,可以确定环节的时间常数T,。
实验用一阶惯性环节传递函数为,其中参数为R0=200,R1=200,C=0.1uF,其模拟电路设计参阅图1.5.2。
2.实验用典型二阶系统开环传递函数参数、电路设计及其幅相频率特性曲线:
对于由两个惯性环节组成的二阶系统,其开环传递函数为
令上式中 ,可以得到对应的频率特性
二阶系统开环传递函数的幅相频率特性曲线,如图3.2.1所示。
根据上述幅相频率特性表达式,有
(3—1)
其中
故有 (3—2)
(3—3)
如已测得二阶环节的幅相频率特性,则、、和均可从实验曲线得到,于是可按式(3—1)、(3—2)和(3—3)计算K、T、ξ,并可根据计算所得T、ξ 求取T1和T2
实验用典型二阶系统开环传递函数为:
其电路设计参阅图3.2.2。
3.对数幅频特性和对数相频特性
上述幅相频率特性也可表达为对数幅频特性和对数相频特性,图3.3.1和图3.3.2分别给出上述一阶惯性环节和二阶环节的对数幅频特性和对数相频特性:
注意:此时横轴w采用了以10为底的对数坐标,纵轴则分别以分贝和度为单位。
六·实验注意事项
在实验过程中,要听从老师的指导,严格按照实验步骤进行,不能任意更改,不熟悉的仪器设备,应先请老师知道后使用,切勿随意乱动。
实验室如有问题发生,应首先用自己学过的知识,独立思考加以解决,努力培养独立分析问题和解决问题的能力,如自己不能解决可与指导老师共同讨论研究,提出解决问题的方法。
七·实验预习要求
每次实验前必须详细预习实验讲义,明了实验目的、原理方法及操作步骤,并在记录本上拟出简单的实验原理、使用方法及操作室的注意事项。
八·实验报告要求
实验进行时,必须随时把观察到的现象和实验数据,如实地记录在实验报告上,不得记在散页纸上,要养成良好的做原始记录的习惯。