要设置成279），这样在基点位置才会显示200/；3、采样点位设计图（修图）；该步骤是对形成的设计图修图过程，首先将土壤样品线；4、采样点坐标输出；对土壤采样点文件进行点位置转属性，只有该文件处于；对采样点土壤编号进行修改，比如基点是300/10；6、新土壤编号的投影；将新编号及其坐标再重新导入文件，对其进行修饰；三、异常下限计算；
1、基本参数；都采用Exc
要设置成279），这样在基点位置才会显示200/100。所有设计完点击右键—重新显示工程，会弹出三个文件。
3、采样点位设计图（修图）
该步骤是对形成的设计图修图过程，首先将土壤样品线中的多余的小线头删除，可以将长线改图层，然后一起删去小线头。土壤样品点文件通过修改子图号，中国地调局系统库为1051，大小自己设置，适合1.5*1.5。样品标注文件中保留基线线号，别的线号删除，在图框附近的点线号进行标注点线号。
4、采样点坐标输出
对土壤采样点文件进行点位置转属性，只有该文件处于编辑状态，辅助工具1---导入导出功能---点位置转属性，然后点击辅助工具1---导入导出功能---导出属性数据（EXCEL）。 5、土壤编号的修改
对采样点土壤编号进行修改，比如基点是300/100，点号是300，线号是100，那么在修改土壤编号的时候，300/100就是正确的，之后是302/100、304/100…，之前是298/100、296/100…，所说的这些前提是100m320m的土壤采样网度。如果要是100m340m的网度，那么点号编号就是相差4，300/100是正确的，之后是304/100、308/100…，之前是296/100.、292/100…。以此类推，最终修改完所有土壤编号。
6、新土壤编号的投影
将新编号及其坐标再重新导入文件，对其进行修饰。
三、异常下限计算
1、基本参数
都采用Excle表格计算(原始数据参照表三) 平均值：=AVERAGE(C2:C36) 方差：STDEV(C2:C36)
异常下限：平均值+K值*方差
2、计算原理
计算过程中自动剔除大于平均值加3倍离差的高值和小于平均值减3倍离差的低值。 K值自选（1-3）。剔除次数的多少取决于没有大于和小于这些数据。
表一
表二
3、DGSInfo异常下限计算（数字地质调查信息综合平台）
（1）基本定义：
背景值=平均值
一倍异常下限=背景值+2×均方差（标准差） 二倍异常下限=一倍×2 三倍异常下限=一倍×3
（2）EXCEL异常下限计算：
a.采用Excle表格计算(原始数据参照表三) 平均值：=AVERAGE(C2:C36) 均方差：STDEV(C2:C36)
（3）数字地质调查综合信息平台异常下限计算：
这样计算结果会比原始数据少，但是能真实反映研究区元素异常情况，实际计算后的值比a种方法较小。
处理数据：
利用Excel表格把所有化探数据先处理一下如图：
注：Ag代表分析结果，X为横坐标，Y为纵坐标。
打开MAPGIS6.7实用服务-投影变换-在菜单栏中找到P投影转换里面有U用户文件投影转换打开。如图：
第二篇：地质填图教程总结04
1、基本参数；都采用Excle表格计算(原始数据参照表三)平均；异常下限：平均值+K值*方差；2、计算原理；计算过程中自动剔除大于平均值加3倍离差的高值和小；表一；表二；3、DGSInfo异常下限计算（数字地质调查信息；（1）基本定义：；背景值=平均值；一倍异常下限=背景值+2×均方差（标准差）二倍异；（2）EXCEL异常下限计算：；a.采用Excle表格计
1、基本参数
都采用Excle表格计算(原始数据参照表三) 平均值：=AVERAGE(C2:C36) 方差：STDEV(C2:C36)
异常下限：平均值+K值*方差
2、计算原理
计算过程中自动剔除大于平均值加3倍离差的高值和小于平均值减3倍离差的低值。 K值自选（1-3）。剔除次数的多少取决于没有大于和小于这些数据。
表一
表二
3、DGSInfo异常下限计算（数字地质调查信息综合平台）
（1）基本定义：
背景值=平均值
一倍异常下限=背景值+2×均方差（标准差） 二倍异常下限=一倍×2 三倍异常下限=一倍×3
（2）EXCEL异常下限计算：
a.采用Excle表格计算(原始数据参照表三) 平均值：=AVERAGE(C2:C36) 均方差：STDEV(C2:C36)
（3）数字地质调查综合信息平台异常下限计算：
这样计算结果会比原始数据少，但是能真实反映研究区元素异常情况，实际计算后的值比a种方法较小。
处理数据：
利用Excel表格把所有化探数据先处理一下如图：
注：Ag代表分析结果，X为横坐标，Y为纵坐标。
打开MAPGIS6.7实用服务-投影变换-在菜单栏中找到P投影转换里面有U用户文件投影转换打开。如图：
用户投影参数：椭球参数：北京54。 根据比例尺可以换算 结果投影参数：