篇一：芯片测试报告范文

Power bank 20##-4000 芯片测试报告

目的：鉴于原power bank20##-4000 芯片的输出电流不能满足不断升级、更新手机的需求，继而寻找高电流出去芯片，代替原有芯片，特针对此芯片芯片进行测试，为今后的更改做好铺垫。

测试工具：电子负载、稳压电源、万用表、电子温度计、数字电流表。

测试内容：

1、输出电流不断上升，输入电压不断下降的状态下，输出效率变化分布；

2、输入为恒压的状态下，不断的提高输出电流，输出效率的变化；

3、输出电流不断上升时，芯片发热温度变化；

测试方案：

1 、控制输出电流从0.3A-1.9A 逐一递升变化（每0.1A）；稳压电源输出为4V，以实际电路输入电压为准，并读取电子负载上的显示参数（输出电压、电流）；

输入电压U0 输出电压 U1

输入电流 I0 输出电流 I1

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篇二：NT25L59芯片测试报告

华中科技大学研究生课程考试答题本

考生姓名姜波考生学号 M201472026 系、年级光学与电子信息学院 14级类别微电子学与固体电子学考试科目 VLSI测试技术考试日期 20xx年 11 月 16日

评分

NT25L59芯片测试报告

注：1、无评卷人签名试卷无效。

2、必须用钢笔或者圆珠笔阅卷，使用红色。用铅笔阅卷无效。

NT25L59芯片测试报告

一、VLSI测试技术概论

电子测试技术，就是应电子产品设计和制造的需求而产生和发展起来的、有着四十多年历史的一个应用科学领域。电子产品从质量和经济两个方面受益于测试技术的发展和应用。质量和经济实际上是一个产品不可分割的两个属性。最优化的质量，意味着以最小的成本满足了用户的需求。一个好的测试过程能够在次品到达用户手中之前把它们淘汰出来。生产这些次品的费用往往会被转嫁到好产品的出售价格中，如果次品太多，那么少数好产品的价格就会过于昂贵。如果一个电子产品的设计工程师不能深刻理解产品的制造和测试过程背后的物理原理，很难想象他能设计出高质量的产品来。

一个电子产品的设计是从确定用户需求开始的，用户需求来自于某项特殊应用需要完成的功能。根据用户需求书写产品规范，它一般包括以下内容：功能定义（输入输出特征）、操作特征（功耗、频率、噪声等）、物理特征（例如封装）、环境特征（温度、湿度、可靠性等）以及其他特征（成本、价格等）。有了详细的功能规范，就可以开始具体的设计了，它也分为几个阶段。第一个阶段是体系结构设计，即为实现目标功能制定一个由若干可实现的功能块构成的系统级结构。第二个阶段称为逻辑设计，进一步将各功能块分解成逻辑门。最后是物理设计，用物理器件（例如晶体管）来实现逻辑门，产生一个芯片版图。物理版图被转化成光掩模，送到硅片制造生产线上加工成芯片。在加工过程中，材料的不纯和缺陷、设备的不完善以及人为的失误等等都是引起故

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篇三：芯片测试报告20xx-3-9

测试报告

所做过的尝试如下：

做每次实验室的步奏都是先给芯片供电，再通过RF端断电/上电复位，即rf复位，最后再给单片机上电使之输出I2C信号。

（1）改变芯片的输入电压VCC在3.4V至4V区间以及2.6V~3.3V区间跳变，单片机I2C上拉电阻所接电压为3.0V~4.0V区间

结果：

一直都未有看到ACK的返回信号

且当芯片的电压超过3.8V后，SCL就出现如下图的毛刺

（2）改变I2C的通信频率

结果：

100KHz：

没有ACK返回，器件地址都未被识别

400KHz：

在此频率下时示波器波形图如下：

芯片测试报告20xx39

在未接芯片时单片机输出的I2C信号：连上芯片后I2C信号变成如下：

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篇四：关于新RFID芯片的测试报告

关于新RFID芯片的测试报告

1、测试目的：

●以书本出入图书馆管理为应用案例，模拟读者携带使用新RFID芯片作为信息载体的书籍进出大门的场景，为实际使用提供可靠数据。

● 模拟读者，通过架位导航检索加载新RFID芯片图书位置的场景。

●测试加载新RFID芯片的图书在读者借还书设备上操作的场景。

● 测试加载新RFID芯片的图书在24小时自动借还书设备中应用的场景。

2、测试环境（场地、设备、设施）：

以图书馆现有场地布局、出入口环境配置、设备、软件系统为测试场景。

3、测试人员：

网络部：XXX

借阅部：XXX

新RFID芯片厂家工作人员

4、测试场景和方法描述

1）在图书馆借阅一区、三区、四区、五区等地分别选取了加载新RFID芯片的《电磁波屏蔽及吸波材料》、《晨昏》、《穿行时间，草木皆兵》、《数据挖掘技术》、《恶的象征》、《若

干聚类问题复杂性及其算法》、《被风沙掩埋的古城》等7类14册书分别进行借还系统测试、携带未经借还系统处理的书籍进出正门、通过架位导航系统查询等测试工作。

经测试，被抽查的14本书籍可以被自动借还书设备识别，系统借还正常。通过架位导航系统，可以看到14本书籍在图书馆各区的分布图。携带未经借还书系统处理的书籍通过大门口的安全防盗门时，防盗门蜂鸣器出现报警反应。

在24小时城市借还书设备上，这些书在借出后均可以通过该设备进行还书操作。通过采编部提供的《7天学会色铅笔》、《女人受益的12堂课—情绪课》2本书在24小时城市借还书设备上进行上书、借阅和还书操作，均可以实现。

5、测试结果：

综上测试情况来看，新的RFID芯片与图书馆原有RFID芯片相比在架位导航应用、借还书应用、24小时城市街区借还书设备应用上效果一致。但是，在采编使用的剥离设备上，新芯片不被设备识别。

XXXXXXXXX:XXXX

20xx年12月10日

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篇五：芯片可靠性测试

芯片可靠性测试

质量（Quality）和可靠性（Reliability）在一定程度上可以说是IC产品的生命，好的品质，长久的耐力往往就是一颗优秀IC产品的竞争力所在。在做产品验证时我们往往会遇到三个问题，验证什么，如何去验证，哪里去验证，这就是what, how , where 的问题了。

解决了这三个问题，质量和可靠性就有了保证，制造商才可以大量地将产品推向市场，客户才可以放心地使用产品。本文将目前较为流行的测试方法加以简单归类和阐述，力求达到抛砖引玉的作用。

Quality 就是产品性能的测量，它回答了一个产品是否合乎SPEC的要求，是否符合各项性能指标的问题；Reliability则是对产品耐久力的测量，它回答了一个产品生命周期有多长，简单说，它能用多久的问题。所以说Quality解决的是现阶段的问题，Reliability解决的是一段时间以后的问题。

知道了两者的区别，我们发现，Quality的问题解决方法往往比较直接，设计和制造单位在产品生产出来后，通过简单的测试，就可以知道产品的性能是否达到SPEC 的要求，这种测试在IC的设计和制造单位就可以进行。相对而言，Reliability的问题似乎就变的十分棘手，这个产品能用多久，who knows? 谁会能保证今天产品能用，明天就一定能用？为了解决这个问题，人们制定了各种各样的标准，如

MIT-STD-883E Method 1005.8

JESD22-A108-A

EIAJED- 4701-D101

等等，这些标准林林总总，方方面面，都是建立在长久以来IC设计，制造和使用的经验的基础上，规定了IC测试的条件，如温度，湿度，电压，偏压，测试方法等，获得标准的测试结果。这些标准的制定使得IC测试变得不再盲目，变得有章可循，有法可依，从而很好的解决的what，how的问题。而Where的问题，由于Reliability的测试需要专业的设备，专业的器材和较长的时间，这就需要专业的测试单位。这种单位提供专业的测试机台，并且根据国际标准进行测试，提供给客户完备的测试报告，并且力求准确的回答Reliability的问题

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