一、实验目的和要求
1、了解光纤损耗的定义 。
2、 学会用插入法测量光纤的损耗。
3、主要通过对光纤线路系统设备的主要性能进行测试。
二、实验内容和原理
传输损耗是光纤很重要的一项光学性质,它在很大程度上决定着传输系统中的中继距离。损耗的降低依赖于工艺的提高和对石英材料的研究。 对于光纤来说,产生损耗的原因较复杂,主要由以下因素造成:
1、纤芯和包层物质的吸收损耗,包括石英材料的本征吸收和杂质吸收;
2、纤芯和包层材料的散射损耗,包括瑞利散射损耗以及光纤在强光场作用下诱发的受激喇曼散射和受激布里渊散射;
3、由于光纤表面的随机畸变或粗糙所产生的波导散射损耗;
4、光纤弯曲所产生的辐射损耗;
5、外套损耗。
这些损耗可以分为两种不同的情况。一是石英光纤的固有损耗机
理,像石英材料的本征吸收和瑞利散射,这些机理限制了光纤所能达到的最小损耗;二是由于材料和工艺所引起的非固有损耗机理,它可以通过提纯材料或改善工艺而减小甚至消除其影响,如杂质的吸收、波导散射等。
测量光纤损耗时,只要测出光纤输入端的光功率 P1和输出光功率P2,即可得到光纤总的平均损耗,则光纤损耗为:
插入法
插入法的测量原理图如图3所示,标准光源发出光信号,扰模器的作用是使光信号达到稳态模功率分布,测量时,可通过连接器,先将自环线(损耗可忽略的光
纤)接入,用光功率计测出此时的光功率值为P1,然后,撤去自环线,将待测光纤插入,读出光功率值P2,则根据(1)式即可算出光纤损耗值。
插入法的特点是:操作简单,不具有破坏性,但精度不高,这是由于连接器性能不佳或光注入状态发生变化时,可能带来误差。
剪断法
剪断法的测量框图如图2所示,标准光源发出光信号,扰模器的作用使光信号达到稳态模分布,利用光功率计先测出光纤的输出光功率P2,然后在距离输入端2-3m的地方将光纤剪断,测量出输入光功率P1,最后根据6-1式即可算出光纤的损耗。
剪断法的特点是:简单、准确,但对光纤具有一定的破坏性。
光纤损耗测试实验测试方案:本实验利用剪断法测量光纤损耗,由于光纤的损耗很小,一般为0.2~0.5dB/km,为了使实验效果明显,则至少需要数千米的光纤,实现起来比较困难,所以在实验中我们建议使用小可变衰减器来代替光纤进行实验。在后继实验步骤中我们以小可变衰减器代替光纤进行,实验方框图如图6所示。如果实验条件允许则将光纤代替小可变衰减器即可
三、主要仪器设备
1、 ZYE4301F型光纤通信原理实验箱两台(1310,1550各一台)
2、光功率计
3、万用表
4、ST-FC,FC-FC型光跳线各一根
5、SC-FC转换器
6、 扰模器
7、 2km光纤
四、实验操作方法和步骤
1、连接好光纤损耗测试系统。
2、 连接导线:将数字基带信号产生模块T402与光发送模块T501连接。
3、将双刀双掷开关J501,J502按下,使光发送模块传输数字信号。
4、接上交流电源线,先开交流开关,再开直流开关K601,K602,五个发光二极管全亮。
5、 接通数字基带信号产生模块(K40)、光发送模块(K50)的直流电源。
6、 用万用表测量R516两端电压(红表笔插T502,黑表笔插T503)。
7、 慢慢调节电位器W501,使驱动电流达到额定值,即使V=30mV。
8、用光功率计测量此时的光功率P2。
9、拆除小可变衰减器。
10、用光功率计测得此时的光功率为P1。
11、 代入(1)式计算即得光纤损耗值。
12、抬起J502,关闭直流电源,拆除导线。
13、光功率计及拆除扰模器上的光纤,将实验箱还原
五、实验记录与处理(数据、图表、计算等)
第一组数据:
第二组数据:
六、实验结果及分析
在这次实验中,有时候测量光纤衰减后的数值比衰减之前还要大些,这证明我们测量有误或者某些地方接错、接反了,于是重新再测量一次,再仔细检查线路无误后,如果再次出现光纤衰减后的值还是比衰减之前的大,那么则有可能是仪器有问题了。
第二篇:光纤地插检测
1 光纤面板/地插材料及性能要求
6.1 材料
6.1.1 使用年限 光纤面板使用寿命不低于20年。
6.1.2 防腐蚀材料 光纤面板采用的材料之间应相容,并具有防腐蚀性能,如无防腐蚀性能的应作表面处理;处理后的构件物理、化学性能应稳定,并与其可能接触的光缆材料相容。表面电镀处理的金属结构件,在通过GB/T 2423.17-2008的试验方法进行48h试验后,外观不得有目力可见的锈斑。
6.1.3 涂覆处理要求 采用涂覆处理的金属结构件,其涂层与基体应具有良好的附着力,附着力应不低于GB/T 9286-1998标准表1中2级要求。
6.1.4 燃烧性能 光纤面板采用的塑料件,其燃烧性能应符合GB/T 5169.5-2008的规定,施加试验火焰持续时间为30s。
6.1.5 集纤功能 余留入户光缆盘绕在光纤面板的盘缆区域内,在光纤面板安装使用的操作中,余留光纤和光纤接头应无明显附加衰减,即按GB/TT13993.2-2002的规定,衰减变化用传输功率监测法监测,其测量值的绝对值不超过0.03dB时,判为无明显附加衰减,允许衰减有某数值变化时,其允许值已包括0.03dB在内。 光缆的最小弯曲半径应满足表3要求,蝶形引入光缆的弯曲应在光缆的扁平方向上进行。 表3 光缆最小弯曲半径单位:mm 光纤类别 静态(工作时) 动态(安装时) B1.1和B1.3 30 60 B6a 15 30 B6b 10 25 6.1.6 有毒有害物质含量 需要时,光纤面板组成材料应符合SJ/T11363-2006 规定的均匀材料(EIP-A 类)有毒有害物质含量的要求。
6.2 机械性能 6.2.1 拉伸 光纤面板与光缆间应能承受不小于50N的轴向拉伸力,光纤面板与适配器间锁紧力应满足相关适配器标准要求。
6.2.2 弯曲 光纤面板与光缆间应能承受弯曲角度±45?,共3个循环的弯曲。试验时和试验后, 固定于光纤面板以内的光缆不应发生扭转及其它异常现象。
6.2.3 机械强度 前盖和底盒应有足够的机械强度,以能经受住安装和使用中所出现的机械强度,机械强度按GB174661.1-2008中的15执行。
6.3 电气性能
6.3.1 绝缘电阻 光缆中有金属构件时,光缆金属构件与光纤面板金属构件之间、光缆金属构件与地之间的绝缘电阻应不小于20000MΩ (测试电压为500VDC)。
6.3.2 耐电压强度 光缆中有金属构件时,光缆金属构件与光纤面板金属构件之间、光缆金属构件与地之间在3000V直流电作用下1min不击穿,无飞弧现象。
6.4 环境性能
6.4.1 高温试验 按GB/T2423.2-2008中规定的试验Bb进行,温度:+50℃,试验后,光纤面板表面应无损伤,外壳和各构件无变形及异常现象。
6.4.2 低温试验 按GB/T2423.1-2008 中规定的试验Ab进行,温度:-25 ℃,试验后,光纤面板表面无损伤,外壳和各构件无变形及异常现象。
6.4.3 恒定湿热试验 按GB/T2423.3-2006 中规定的(40±2)℃,(85±3)%RH,试验后,光纤面板表面应无损伤,外壳和各构件无变形及异常现象。
2 测试标准及方法
7.1 试验方法
7.1.1 试验条件 标准大气条件如下:温度:15℃~35℃;相对湿度:45%~75%;大气压力:86kPa~ 106kPa。
7.1.2 结构与功能检查 目视检查,必要时用游标卡尺寸测量或实际操作。
7.1.3 外观与装配要求检查
7.1.3.1 外观检查 目视检查。
7.1.3.2 装配要求检查 目视或实际操作方法检查。
7.1.4 材料检查
7.1.4.1 盐雾试验 将装配完整的光纤面板试样置于试验箱中,试验条件按3.4.1中要求,按 FB/T2423.17-2008“试验Ka”方法进行试验,试验结束时立即取出试样用清水冲洗,不能破坏腐蚀点状态,清洗后在标准的试验大气条件下恢复2h,进行测试。
7.1.4.2 涂层附着力试验 对于光纤面板中采用涂覆处理的金属结构件按GB/T9286-1998
第7条规定进行涂层附着力试验。
7.1.4.3 燃烧性能试验 对于光纤面板采用的塑料件按GB/T5169.5-2008 规定进行燃烧性能试验。
7.1.5 集纤功能试验 按YD/T629.1-1993中规定的试验条件、仪器设备和方法,采用监测法监测光纤面板按规程进行安装操作前后衰减的变化情况。
7.1.6 机械性能试验
7.1.6.1 拉伸试验 将光纤面板用夹具夹牢,用拉伸夹头将光缆或适配器夹持牢固,拉伸速度为10mm/min ,最大拉力见3.6.1 的要求,维持1min。
7.1.6.2 弯曲试验 将光纤面板固定点在一个光滑、平坦的水平面上,在距离光纤面板端部150mm 长度处的光缆上施加弯曲力,再使光缆偏转45?,在偏转位置保持1min后,返回原来的位置,然后向相反方向进行同样的操作,保持1min,完成一个弯曲循环,共3个循环。
7.1.6.3 机械强度试验 对于光纤面板的前面、底盒的机械强度试验按GB17466.1-2008 进行。
7.1.7 电气性能测试 不作要求。
7.1.8环境条件试验 1.1.8.1高温试验 按GB/T2423.2—2008中规定的试验Bb进行。将无包装的试验样品置于试验箱(室) 内,试验温度按3.8.1 要求,持续时间2h,试验后试样从试验箱取出,试验后试样在标准大气下恢复,目视检查表面无损伤,外壳和各构件无变形及异常现象。
7.1.8.2 低温试验 按GB/T 2423.1—2008 中规定的试验Ab进行。将无包装的试验样品置于试验箱(室)内,试验温度按3.8.2 要求,持续时间2h,试验后试样在标准大气下恢复,目视检查表面无损伤,外壳和各构件无变形及异常现象。
7.1.8.3 恒定湿热试验 按GB/T2423.3—2006 中规定的试验进行。将无包装的试验样品置于试验箱(室)内,试验按3.8.3 要求,持续时间2d, 试验后试样在标准大气下恢复,目视检查表面无损伤,外壳和各构件无变形及异常现象。
7.1.9 有毒有害物质含量的试验
7.1.9.1 有毒有害物质含量的试验方法按SJ/T 11365-2006 的规定。
7.2 检验规则
7.2.1 总则 (1)产品应经生产厂质量检验部门检验合格后方可出厂,出厂产品应有产品质量合格证。 (2)产品检验分为出厂检验和型式检验。
7.2.2 出厂检验 (1)出厂检验项目如表4 所示。其中外观与装配要求为100%检验,其余按GB/T 2828.1-2003 中特殊检查水平为S-1,正常检验一次抽样方案进行抽样,光纤面板抽样样本按套数计, AQL 值B 类不合格为:2.5;C 类不合格为:10。 (2)100%出厂检验项目中,有不合格项时即判该产品为不合格品,将不合格品从检验批注。