实验18:霍耳效应及应用(参考内容)
一、实验目的:
1.了解霍耳效应实验原理
2.学习用“对称测量法”消除副效应的影响,测量实验试样(霍尔元件)的VH—Is曲线、
VH—IM曲线。
3.确定试样(霍尔元件)的导电类型(N型或P型)。
二、实验器材(型号、规格、件数)
霍耳效应实验仪(HLD—HL--IV型)1台、
霍耳效应测试仪(HLD—HL--IV型)1台(可用2台恒流源,1台数字电压表替代)
专用测试线6根
[仪器简介]
仪器外观图
图二 实验仪电路连接图
三、实验原理
将一导电体(金属或半导体)薄片放在磁场中,并使薄片平面垂直于磁场方向。当薄片纵向端面有电流I流过时,在与电流I和磁场B垂直的薄片横向端面AA’间就会产生一电势差,这种现象称为霍耳效应(Hall effect),所产生的电势差叫做霍耳电势差或霍耳电压,用VH表示。
霍耳效应从本质上讲是运动的带电粒子在磁场中受洛仑兹力f洛作用而引起的偏转。当带电粒子(电子或空穴)被约束在固体材料中,这种偏转就导致在垂直电流和磁场方向上产生正负电荷集累,从而形成附加的横向电场,即霍耳电场EH。
对实验所用试样(霍尔元件),在X方向通以电流Is,在Z方向加磁场B,则在Y方向有霍耳电场EH。
…… …… 余下全文